Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету
елемент пам'яті, элемент памяти
Документи:
- Синтез Q-тестов по кубитному описанию функциональностей [Текст] / B. A. Tamer, И. В. Емельянов, М. Любарский, В. И. Хаханов // Радиоэлектроника и информатика. – 2016. – № 2. – С. 38-47.
- Влияние покрытия молекулами органических соединений на управление проводимостью канала из углеродных нанотрубок [Текст] / И. И. Бобринецкий, А. В. Емельянов, В. К. Неволин, А. В. Ромашкин // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2013. – № 4. – С. 51-60.
- Эффекты переключения и памяти в МОП-структурах Al-SiO2-Si [Текст] / З. А. Искендер-заде, М. Р. Ахундов, Э. A. Джафарова, Ш. А. Алиханова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 2. – 59-61.
- Карташёв, С. С. Моделирование элемента памяти с учетом дискретного зарядового состояния плавающего затвора МОП-транзисторов [Текст] / С. С. Карташёв, В. В. Лосев // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – Т. 21, № 6. – С. 586-589.
- Кобринський, А. Ю. Фізичні основи створення оптичних елементів пам'яті за участю вільних електронів [Текст] / А. Ю. Кобринський, Г. Є. Чайка // Український фізичний журнал. – 2002. – 47, № 6. – 578-580.
- Лисенко, Г. Л. Побудова елементів оптоелектронної пам'яті з використанням електроабсорбційних модуляторів світла [Текст] / Г. Л. Лисенко, Д. С. Костюченко // Оптико-електронні інформаційно-енергетичні технології. – 2012. – № 1. – С. 88-92.
- Флэш память основанная на мультиграфене [Текст] / Ю. Н. Новиков, В. А. Гриценко, Г. Я. Красников, О. М. Орлов // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 1. – С. 66-71.
- Стенин, В. Я. Базовые элементы памяти на основе ячеек DICE для сбоеустойчивых КМОП 28 нм ОЗУ [Текст] / В. Я. Стенин, П. В. Степанов // Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 6. – С. 416-427.
- Шагурин, И. И. Сравнительный анализ комбинированных методов повышения сбое- и отказоустойчивости блоков статической оперативной памяти [Текст] / И. И. Шагурин, Л. А. Щигорев // Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2016. – № 4. – С. 347-352.
|
