Електронний каталог науково-технічної бібліотеки Вінницького національного технічного університету
плівка тонка
Документи:
- Bedreddine, Maaoui Impact of Deposition Rate on the Structural, Optical, and Electrical Properties of Zinc Oxide (ZnO) Thin Films Prepared by Solar Spray Pyrolysis Method [Текст] / M. Bedreddine, A. Yacine, B. Said // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, № 1. – С. 167-176.
- Bihun, R. I. Germanium Wetting Layers’ Dimensional Effect in Structural and Optical Properties of Silver Films (англ. м.) [Текст] / R. I. Bihun, M. D. Buchkovs’ka, B. P. Koman // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2022. – Т. 20, № 4. – С. 929-939.
- Bordun, O. M. Surface Morphology of Thin -Ga2O3 Films Obtained by Radio-Frequency Sputtering [Текст] / O. M. Bordun, B. O. Bordun, I. Yo. Kukharskyy // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, № 1. – С. 159-166.
- Kosoboutskyy, P. Suppression of interface impedance contrast in plane-parallel coatings [Текст] / P. Kosoboutskyy, M. Karkulovska // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". Серія : Комп'ютерні системи проектування. Теорія і практика. – 2015. – № 828. – С. 3-10.
- Said, Benramache. Synthesis and Annealing Temperature Effect on Structural, Optical and Electrical Properties of NiO Thin Films Deposited by Sol–Gel Technique [Текст] / Benramache. Said, Aoun. Yacine, G. Rime // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, № 1. – С. 147-158.
- Бордун, О. М. Люмінесценція активованих тонких плівок Bi4Ge3O12 [Текст] / О. М. Бордун // Український фізичний журнал. – 2002. – 47, № 7. – 650-652.
- Бордун, О. М. Вплив умов одержання на структуру та морфологію поверхні тонких плівок В-Ga2 O2 й (Y0 0.06 Ga 0.94)2 О3 [Текст] / О. М. Бордун, Б. О. Бордун, І.Й. та інші. Кухарський // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2019. – Т. 17, № 1. – С.123-131.
- Буджак, Я. С. До питання про кореляційні залежності кінетичних властивостей тонких плівок від їх товщини [Текст] / Я. С. Буджак, Д. М. Фреїк, В. Ф. Пасічняк // Фізика і хімія твердого тіла. – 2007. – 8, № 3. – 463-465.
- Аналіз методів визначення теплопровідності тонких плівок [Текст] / М. О. Галущак, В. Г. Ральченко, Д. М. Фреїк, А. І. Ткачук // Методи та прилади контролю якості. – 2012. – 1(28). – С. 162-167.
- Густина електронних станів тонкої плівки аморфного дисиліциду хрому [Текст] / Л. А. Дворіна, Ю. М. Макогон, О. П. Павлова, А. І. Стецун // Фізика і хімія твердого тіла. – 2008. – 9, № 2. – С. 325-327.
- Дзундза, Б. С. Автоматизований програмно-апаратний комплекс для вимірювання термоелектричних параметрів напівпровідникових матеріалів [Текст] / Б. С. Дзундза // Термоелектрика. – 2018. – № 5. – С. 5-12.
- Динаміка зміни електронних та оптичних властивостей твердих розчинів заміщення CdSe1-xSx [Текст] / Г. A. Ільчук, Е. О. Змійовська, Р. Ю. Петрусь, ін. та // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2020. – Т. 18, № 1. – С. 59-76.
- Ільчук, Г. A. Розмірний ефект у тонких плівках CdS [Текст] / Г. A. Ільчук, А. І. Кашуба, Р. Ю. Петрусь // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, № 1. – С. 139-146.
- Вплив температури на оптичні властивості тонких плівок Cu_2ZnSnSe_4 [Текст] / Е. В. Майструк, І. П. Козярський, Д. П. Козярський, П. Д. Мар'янчук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2018. – № 5-6. – C. 50-54.
- Розмірні ефекти в тонких плівках PbSe, легованого хлором [Текст] / С. І. Меньшикова, О. І. Рогачова, А. Ю. Сіпатов [та ін.] // Термоелектрика. – 2015. – № 2. – С. 25-35.
- Залежності термоелектричних властивостей від товщини тонких плівок телуриду свинцю, легованого індієм [Текст] / С. І. Меньшикова, О. І. Рогачова, А. Ю. Сіпатов [та ін.] // Термоелектрика. – 2014. – № 6. – С. 58-68.
- Морозовська, Г. М. Локальний електромеханічний відгук тонких плівок напівпровідників - іоніків [Текст] / Г. М. Морозовська, Г. О. Свєчніков, К. В. Деркач // Український фізичний журнал. – 2011. – Т. 53, № 11. – С. 1213-1220.
- Нагірний, Т. Рівноважний стан електропровідної неферомагнітної тонкої плівки [Текст] / Т. Нагірний, Ю. Сеник // Фізико-математичне моделювання та інформаційні технології : науковий збірник / НАН України, Центр математичного моделювання Ін-ту прикладних проблем механіки і математики ім. Я. С. Підстригача. – Львів : Центр математичного моделювання Ін-тут прикладних проблем механіки і математикиім. Я. С. Підстригача, 2016. – Вип. 24. – С. 66-72.
- Вплив поведінки носіїв заряду на термоелектричні властивості тонких плівок PbTe:Ві [Текст] / Л. І. Никируй, О. М. Возняк, Я. С. Яворський [та ін.] // Термоелектрика. – 2018. – № 3. – С. 15-30.
- Моделювання процесу росту оксиду на поверхні при дифузії в тонких плівках в умовах дії "кисневого насоса" [Текст] / А. І. Олешкевич, А. М. Гусак, С. І. Сидоренко, С. М. Волошко // Український фізичний журнал. – 2010. – Т. 55, № 9. – С. 1005-1014.
- О, . М. Bordun. Deposition of Thin Y2O3: Eu Films by Radio-Frequency Sputtering [Текст] / . М. Bordun. О, . О. Bordun. І, М. K. І // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2022. – Т. 20, № 3. – С. 639-646.
- Особливості синтезу "лісу" ВНТ в умовах додавання регульованої плазмової компоненти робочого газу [Текст] / В. Є. Панарін, М. Є. Свавільний, М. А. Скорик [та ін.] // Сверхтвердые материалы. – 2018. – № 4. – С. 51-58.
- Плазмохімічне устаткування для осадження нанокомпозитних наношаруватих плівок [Текст] / О. К. Порада, В. І. Іващенко, Л. А. Іващенко [та ін.] // Надтверді матеріали. – 2019. – № 1. – С. 42-50.
- Структура тонких плівок p-Bi_2Te_3, отриманих термічним випаровуванням у вакуумі із одного джерела [Текст] / О. І. Рогачова, О. В. Будник, О. Г. Федоров [та ін.] // Термоелектрика. – 2015. – № 2. – С. 5-15.
- Рябцев, С. І. Структура та електричні властивості тонких плівок Al Cu Co та AlCo Ni [Текст] / С. І. Рябцев, О. В. Сухова // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2019. – Т. 17, № 4. – С. 729-736.
- Вплив наноструктуризації кремнію на електричні та фотоелектричні властивості діод Шотткі NI/n-SI [Текст] / М. М. Солован, А. І. Мостовий, В. В. Брус, П. Д. Мар'янчук // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2019. – Т. 17, № 3. – С. 491-506.
- Солован, М. М. Фоточутливі діоди Шотткі графіт/n-SI, виготовлені методом електронно-променевого випаровування [Текст] / М. М. Солован, Г. М. Ямрозик, А. І. Мостовий // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, вип. 4. – С. 823-840.
- Товстенко, В. І. Про залежність коефіцієнта заломлення від товщини тонких плівок кристала антраценту [Текст] / В. І. Товстенко // Український фізичний журнал. – 2002. – № 2. – 138-141.
- Удовицький, В. І. Тонкі плівки органічних напівпровідників для твердотільних сенсорів токсичних газів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 01.04.07 / Віктор Григорович Удовицький ; Науково-технічний центр електрофізичної обробки. – Харків, 2005. – 20 с.
- Дефектна підсистема тонких плівок PbSe при парофазній епітаксії з участю кисню [Текст] / А. Д. Фреїк, Б. М. Рувінський, О. Я. Довгий, М. О. Галущак // Український фізичний журнал. – 2002. – 47, № 8. – 769-772.
- Шуаібов, О. К. Характеристики та параметри плазми газорозрядного реактора з «холодної синтези біметалевих наночастинок Cu-Zn в аргоні [Текст] / О. К. Шуаібов, А. О. Малініна, М. т. Малінін // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2022. – Т. 20, № 4. – С. 839 - 856.
- Шуаібов, О. К. Характеристики та параметри перенапруженого наносекундного розряду між електродою зхалькопіриту в азоті та його застосування для синтези тонких плівок [Текст] / О. К. Шуаібов, О. Й. Міня, А. О. Малініна // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. – 2021. – Т. 19, вип. 3. – С. 513-536.
- Шубін, О. Баланс частинок на поверхні росту плівки [Текст] / О. Шубін // Матеріали ІІ Міжнародної науково-технічної конференції "Сучасні проблеми мікроелектроніки, радіоелектроніки, телекомунікацій та приладобудування" (СПМРТП-2006) м. Вінниця, Україна 16-19 листопада 2006 року / МОН України; ВНТУ. – Вінниця : УНІВЕРСУМ-Вінниця, 2006. – С. 49-50.
- Юзевич, В. М. Механічні напруження в тонких плівках на монокристалічному кремнії [Текст] / В. М. Юзевич, Б. П. Коман // Металлофизика и новейшие технологии. – 2003. – 25, № 6. – С. 747-761.
|