| |
Лазерный профилометр-анализатор тонколистовых материалов [Текст] / О. Иванин, А. Дегтяров, В. Бачинский, В. Балабась
// Электронные компоненты и системы. – 2004. – № 10. – 44-46.
В статье приведено описание технических характеристик лазерного бесконтактного профилометра-анализатора "Сапфир", предназначенного для измерения и анализа высоты профиля (поперечного сечения) листовых материалов (обоев, технологических образцов бумаги и т.п.) |
