| |
Закономерности деградации светоизлучающих диодов [Текст] / И. М. Викулин, В. И. Ирха, Б. Г. Коробицын, В. Э. Горбачев
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2004. – № 2. – 55-56.
Предложен метод тестирования фосфид-галиевых светоизлучающих диодов на продолжительность срока службы |
