Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Мурыгин, В. И.
    Дебаевская длина экранирования электрического поля в полупроводниках с различными примесными уровнями [Текст] / В. И. Мурыгин, В. В. Лосев, В. Б. Гундырев
    // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2004. – № 1. – 43-47.

   Предложена простая методика расчета дебаевской длины экранирования электрического поля в полупроводниках для практически важных случаев

  УДК 621.315.592:537.311.322


            




Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'