| |
Васильев, В. А.
Информационно-измерительный комплекс для оптоемкостной спектроскопии полупроводников [Текст] / В. А. Васильев
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2002. – № 2. – 46-49.
Описан алгоритм автоматизированной настройки канала измерения |
