| |
Горлов, М. И.
Прогнозирование долговечности биполярных интегральных схем различного конструктивно-технологического исполнения [Текст] / М. И. Горлов, А. В. Строгонов, В. А. Емельянов
// Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 5. – 72-76.
По результатам прогнозирования установлено, что электрический параметр - выходное напряжение высокого уровня (Uон) ТТЛ ИС - сильнее подвержен деградации, чем параметр выходное напряжение низкого уравня Uоl |
