|
Измерение толщины тонкослойных сцинтилляторов [Текст] / С. П. Авдеев, В. А. Карнаухов, В. Д. Кузнецов [et al.] // Приборы и техника эксперимента. – 2001. – № 5. – 70-73.
Показао, что с помощью сканирования бета-активности удается проследить распределение толщины сцинтиллятора |