Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Богданов, Ю. И.
    Прогнозирование выхода годных и контроль технологических потерь в полупроводниковом производстве [Текст] / Ю. И. Богданов, В. В. Минаев, А. В. Руднев
    // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 3. – 52-58.

   Предложена аналитическая статистическая модель для прогнозирования распределения выхода годных с учетом невоспроизводимости уровня дефектности технологии.

  УДК 621.382


            




Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'