|
Балим, Г. М. Оценка времени безотказной работы полупроводниковых приборов и микросхем по ожидаемому уровню фликкер-шума [Текст] / Г. М. Балим, М. Г. Левина // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 3. – 43-51.
Предлагается расчетный способ проектной оценки показателей надежности полупроводниковых приборов и микросхем, не требующих экспериментального исследования опытных образцов. |