Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Будагян, Б. Г.
    Дефекты и локализованные состояния в a-SiGe:H [Текст] / Б. Г. Будагян, Г. Л. Горбулин, В. Д. Черномордик
    // Изв.ВУЗов.Электроника. – 2001. – № 2. – 27-31.

   На основе совместного анализа результатов моделирования фотопроводимости и ИК-спектроскопии исследована природа локализованных состояний в сплавах a-SiGe:H, выращенных в низкочастотной плазме (55 кГц) тлеющего разряда.

  УДК 621.382


            




Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'