| |
Новые методы повышения стойкости биполярных микросхем к воздействию проникающей радиации [Текст] / А. И. Белоус, С. А. Ефименко, Э. П. Калошкин [и др.]
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2001. – № 2. – С. 23-27.
Предложены конструктивные решения, позволяющие исключить наиболее вероятные механизмы отказов БИС, а также метод их радиационно-термической отбраковки. |
