| |
Стерхова, А. В.
Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок [Текст] / А. В. Стерхова, П. А. Ушаков, П. Н. Жарков
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2001. – № 1. – 39-43.
Применение современных средств компьютерной обработки изображения позволило создать физическую структурную и кластерную модели толстой серебропалладиевой резистивной пленки с учетом как топологических, так и метрических хаарактеристик |
