| |
Вакив, Н. М.
Моделирование деградации радиационно-оптических свойств халькогенидных стеклообразных полупроводников [Текст] / Н. М. Вакив
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2000. – № 5-6. – 52-57.
Математическая модель для количественного описания деградации может быть развита на основе бимолекулярной релаксационной функции |
