| |
Байда, М. П.
Метод комбінованого діагностування електронних пристроїв [Текст] / М. П. Байда
// Вісник ВПІ. – 1994. – № 1. – С. 18-22.
Розглянутий метод комбінованого діагностування ЕП дозволяє реалізувати ефективні процедури автоматизованого пошуку дефектів. |
