| |
Андреев, А. Н.
Исследование инерционных характеристик фоторезисторов в физическом практикуме [Текст] / А. Н. Андреев, О. Н. Андреева
// Радіотехніка. – 2020. – № 202. – С. 189-195.
Описан измерительный комплекс на базе 32-разрядного микроконтроллера STM32FF103VET6 для исследования люкс-амперной (световой), частотной и инерционной характеристик фоторезистора при разных законах рекомбинации неравновесных носителей заряда, возникающих под воздействием света. |
