| |
Тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX згідно з методикою NIST STS [Текст] / Я. Р. Совин, Ю. М. Наконечний, В. М. Чінка, І. Я. Тишик
// Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2012. – № 745 : Комп'ютерні системи та мережі. – С. 168-175.
Проведено тестування вбудованого генератора випадкових чисел мікроконтролерів родини STM32F4XX з ядром ARM Cortex-M4F згідно з методикою NIST STS. |
