Работа посвящена решению важной проблемы продления периода эксплуатации устаревшего оборудования систем критического назначения, плановые мероприятия по замене которого экономически не целесообразны в данное время. При этом необходимым условием продления периода эксплуатации является сохранение установленных рисков возникновения критических ситуаций, которые могут стать причиной аварий. Для невосстанавливаемых изделий прогнозируется остаточный ресурс, а для восстанавливаемых - остаточный срок службы. На примере полупроводниковых транзисторов в работе предлагаются методы прогнозирования остаточного ресурса изделий после длительного хранения без электрической нагрузки и по результатам форсированных испытаний с повышенной нагрузкой.