| |
Невлюдов, І. Ш.
Методи діагностики відмов танталових оксидно-напівпровідникових конденсаторів з твердим діелектриком (на англ. мові) [Текст] / І. Ш. Невлюдов, В. М. Гурин, Д. В. Гурін
// Сучасний стан наукових досліджень та технологій в промисловості. – 2018. – № 4(6). – С. 57-61.
Розглянуто фізичні явища, що відбуваються в конденсаторах при впливі різних факторів, що з'являються в процесі виробництва. Показано, що окислювально-відновні процеси призводять до погіршення стану конденсаторів. Встановлено, що основні причини деградації конденсаторів мають термодинамічний характер і вони зменшують час життя конденсаторів. Розроблено технологічні операції, які значно зменшують або виключають розглянуті види відмов. |
