Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Баранов, Г. В.
    Изучение влияния шага плазменного травления на шероховатость стенок канала Fin FET в схеме гетероинтеграции [Текст] / Г. В. Баранов, А. П. Миленин, М. Р. Бакланов
    // Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 3. – С. 197-202.

   Обсуждается природа возникновения шероховатости стенок канала Fin FET в схеме гетероинтеграции. Показано, что её появление обусловлено исходной шероховатостью стенок "фин"-структур, возникающей на шаге плазменного травления.

  УДК 621.794.449


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2016. – Т. 45, № 3.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'