Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
Пошук Відібрані Формуляр Опис документа
Сайт бібліотеки Сайт ВНТУ
          Пол, Д.
    Что понимать под надежностью ПЛИС? [Текст] / Д. Пол
    // Электронные компоненты. – 2016. – № 3. – С. 76-77.

   Надежность полупроводниковых устройств.

  


            

Є складовою частиною документа Электронные компоненты [Текст]. – 2016. – № 3.



Теми документа
Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'