Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Новиков, Ю. А.
    Плотность распределения электронов в зонде низковольтного РЭМ [Текст] / Ю. А. Новиков
    // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 5. – С. 373-383.

   Предложен метод измерения плотности распределения электронов в зоне низковольтного растрового электронного микроскопа. Продемонстрировано, что сфокусированный зонд имеет гауссовскую форму.

  УДК 537.533,537.533.35


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2014. – Т. 43, № 5.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'