Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Стенин, В. Я.
    Ограничения и перспективы использования двухфазной КМОП-логики в сбоеустойчивых суб-100-нм СБИС [Текст] / В. Я. Стенин
    // Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 94-103.

   Сбоеустойчивость КМОП-инверторов с двухфазной структурой к воздействию отдельных ядерных частиц для инверторов с проектными нормами 65 и 45 нм зависит от емкостной связи их дифференциальных входов (выходов). Для оценки сбоеустойчивости предложена пороговая характеристика.

  УДК 621.382+621.396.6


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2014. – Т. 43, № 2.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'