| |
Чумаков, А. И.
Оценка многократных сбоев в интегральных схемах от воздействия тяжелых заряженных частиц [Текст] / А. И. Чумаков
// Микроэлектроника. – 2014. – Т. 43, № 2. – С. 83-87.
Представлены результаты расчетного моделирования ионизационной реакции в элементах БИС при попадании отдельной заряженной частицы в его пассивную или активную области. В работе обоснованы условия возникновения многократных одиночных сбоев, возникающих за счет диффузионных механизмов собирания избыточного заряда. |
