| |
Квазиоптическое масштабное моделирование влияния локализованных дефектов поверхности металлов на данные оптической эллипсометрии [Текст] / А. И. Беляева, А. А. Галуза, В. К. Киселев [и др.]
// Радіофізика та електроніка. – 2014. – Т. 5(19), № 1. – С. 66-73.
Цилиндрические векторные пучки имеют множество приложений, включая ускорение электронов, обработку материалов, высокоразрушающую метрологию, микроэллипсометрию и спектроскопию. В терагерцевом диапазоне методы и подходы формирования пучков со сложной поляризационной структурой практически отсутствуют. |
