| |
Системы на кристалле: особенности радиационного поведения и оценка радиационной стойкости [Текст] / О. А. Калашников, П. В. Некрасов, А. Ю. Никифоров [и др.]
// Микроэлектроника. – 2016. – Т. 45, № 1. – С. 36-43.
Представлены результаты анализа типовых радиационных отказов систем на кристалле. Определен набор основных параметров-критериев радиационной стойкости систем на кристалле различных классов. |
