| |
Епифанцев, К. А.
Анализ влияния температуры на импульсную электрическую прочность КМОП-микросхем [Текст] / К. А. Епифанцев, П. К. Скоробогатов, О. А. Герасимчук
// Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 49-53.
Приведены результаты экспериментальных исследований образцов КМОП-микросхем CD4001BCN_NL на импульсную электрическую прочность (ИЭП) при двух значениях температуры окружающей среды +25 и +125 ° С. Анализ полученных результатов показал, что температура среды влияет на значение показателей импульсной электрической прочности исследуемой микросхемы. Величина и характер изменения ИЭП может быть описаны моделью теплового повреждения p-n-перехода. |
