| |
Рациональный методический подход к оценке дозовой стойкости КМОП-микросхем с учетом эффектов низкой интенсивности [Текст] / Д. В. Бойченко, О. А. Калашников, А. Б. Каракозов, А. Ю. Никифоров
// Микроэлектроника. – 2015. – Т. 44, № 1. – С. 4-11.
Представлен рациональный методический подход к оценке дозовой стойкости КМОП-микросхем с учетом эффектов низкой интенсивности, подкрепленный результатами модельного анализа и экспериментальных исследований широкой номенклатуры изделий. Данный подход позволяет выбрать необходимый и достаточный объем радиационных исследований, обеспечивающий достоверную и информативную инженерную оценку радиационной стойкости КМОП-микросхем для применения в космической аппаратуре. |
