| |
Пустовит, А. Н.
Криосистема для охлаждения образцов вторично-ионного масс-спектрометра со сстатическим анализатором [Текст] / А. Н. Пустовит, А. М. Ионов
// Приборы и техника эксперимента. – 2014. – № 1. – С. 133-136.
Описана криосистема для охлаждения образцов вторично-ионного масс-спектрометра IMS-4Fсо статическим анализатором. Криосистема позволяет поддерживать температуру образца с точностью + - 1Кв температурном диапазоне от 60 до 240К путем комбинации нагрева и охлаждения (жидким гелием или азотом). |
