| О-35 |
Овчинников, К. В.
Метод та засіб вимірювального контролю товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 : захищена 04.10.2013 / Костянтин Вячеславович Овчинников; ВНТУ. – Вінниця, 2013. – 162 с. – Бібліогр.: с.131-141.
Метою роботи є підвищення вірогідності вимірювального контролю товщини діелектричного покриття пласких металевих поверхонь за рахунок використання в процесі отримання вимірювальної інформації час-цифрових перетворювачів. |
