| |
Сасункевич, А. А.
Экспериментальное исследование явления накопления дефектов в сверхвысокочастотных биполярных транзисторах при воздействии последовательности электрических импульсов [Текст] / А. А. Сасункевич, Л. Н. Сорокин, В. Г. Усыченко
// Радиотехника и электроника. – 2013. – Т. 58, № 6. – С. 635-640.
Показано, что при воздействии на транзистор последовательности относительно редких электрических импульсов, энергия которых в два и более раз меньше энергии выгорания транзистора, число импульсов, вызывающих катастрофический отказ вследствие накопления дефектов, растет экспотенциально быстро при уменьшении их энергии. |
