|
| | |
Развитие базовой технологии прогнозирования, оценки и контроля радиационной стойкости изделий микроэлектроники [Текст] / А. Ю. Никифоров, П. К. Скоробогатов, М. Н. Стриханов [и др.]
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2012. – № 5. – С. 18-23.
|
| |
|
