|
| |
Кучерук, В. Ю. Засоби вимірювального контролю товщини діелектричних покрить пласких металевих поверхонь [Текст] / В. Ю. Кучерук, К. В. Овчинников // Вимірювання, контроль та діагностика в технічних системах ( ВКДТС-2011 ) : Перша міжнародна наукова конференція пам'яті професора Володимира Поджаренка : збірник тез доповідей / МОНМС України, ВНТУ. – Вінниця : ВНТУ, 2011. – С. 96.
|
| |
|