Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
          Полунин, В. А.
    Моделирование процесса рекомбинации в SiO-2 при воздействии ионизирующего излучения методом Монте -Карло [Текст] / В. А. Полунин, А. В. Согоян
    // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 191-199.

   Предложен метод расчета выхода " первичной" рекомбинации электронов.

  УДК 621.382


            


Є складовою частиною документа Микроэлектроника [Текст] / РАН. – 2011. – Т. 40, № 3.



Теми документа






Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'