|
Полунин, В. А. Моделирование процесса рекомбинации в SiO-2 при воздействии ионизирующего излучения методом Монте -Карло [Текст] / В. А. Полунин, А. В. Согоян // Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 3. – С. 191-199.
Предложен метод расчета выхода " первичной" рекомбинации электронов. |