Описываются методы измерения коэффициента отражения от плоских образцов в свободном пространстве на миллиметровых, сантиметровых и дециметровых волнах. Продемонстрирована эффективность этих методов при измерении реальных образцов двухслойной структуры на основе киральных элементов.