| |
Горлов, М. И.
Способы разделения полупроводниковых приборов по надежности с использованием низкочастотного шума и рентгеновского облучения [Текст] / М. И. Горлов, Д. Ю. Смирнов, Е. А. Золотарева
// Микроэлектроника. – 2011. – Т. 40, № 1. – С. 52-56.
Расматриваються способы разделения полупроводниковых приборов по надежности с использованием параметров низкочастотного шума при воздействии рентгеновского облучения. |
