| |
Развитие методики лазерной диагностики твердых тел при импульсном световом облучении [Текст] / М. Ф. Галяутдинов, Б. Ф. Фаррахов, Я. В. Фаттахов, М. В. Захаров
// Приборы и техника эксперимента. – 2010. – № 4. – С. 150-155.
Описываемая методика, основаная на регистрации дифракционной картины Фраунгофера, позволяет с высоким временным разрешением исследовать структурно-фазовые переходы ионно-легированного слоя полупроводника одновременно с измерением температуры образца. |
