| |
Бачманов, В. А.
Диакоптические методы временной характеризации статических ЗУПВ КМОП, компилируемых по субмикронным проектным нормам [Текст] / В. А. Бачманов, С. А. Бобриков, И. В. Заболотнов
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2010. – № 4. – С. 42-51.
Представлены два диакоптических метода, в полном объеме решающих задачу временной характеризиции блоков статической памяти. |
