В монографії розглядаються питання субпіксельної локалізації простих елементів зображення об'єктів на основі низькочастотної фільтрації, що дало змогу створити новий клас комп'ютеризованих оптико-електронних систем геометричних параметрів об'єктів. Ці системи реалізують принципово нові методи виділення і кількісної оцінки інформативних ознак вказаних зображень. Розроблені методи виділення контуру, автоматичного визначення порогу бінаризації, а також метод субпікскльного визначення координати максимуму інтенсивності світлової плями.