| |
Сергеев, В. А.
Контроль качества сборки цифровых интегральных схем с использованием матрицы тепловых импедансов [Текст] / В. А. Сергеев, В. В. Юдин
// Известия высших учебных заведений. Электроника. – 2009. – № 6. – С. 72-77.
Описаны способ и устройство косвенного измерения параметров матрицы тепловых импедансов (МТИ) логических элементов цифровых интегральных схем (ЦИС). |
