| |
Некрасов, П. В.
Функциональний контроль микропроцессоров при проведении радиационных испытаний [Текст] / П. В. Некрасов, А. А. Демидов, О. А. Калашников
// Приборы и техника эксперимента. – 2009. – № 2. – С. 48-52.
Описываемый метод "выборочного" функционального контроля является компромиссным и обеспечивает достаточную полноту тестирования микропроцессоров при приемлемых затратах. |
