| |
СБИС для микроэлектронного координатно-чувствительного детектора приборов элементного анализа материалов [Текст] / В. П. Сидоренко, В. Г. Вербицкий, Ю. В. Прокофьев [et al.]
// Технология и конструирование в электронной аппаратуре. – 2008. – № 1. – С. 25-29.
Разработаная СБИС обеспечивает одновременный анализ всех входящих в состав вещества элементов с высокой чувствительностью. |
