Електронний каталог науково-технічної бібліотеки
Вінницького національного технічного університету

ПРАВИЛА КОРИСТУВАННЯ ЕК
621.396
Г 55          Глудкин, О. П.
    Технология испытания микроэлементов радиоэлектронной аппаратуры и интегральных микросхем [Текст] : Учебное пособие для приборостроительных специальностей вузов / О. П. Глудкин, В. Н. Черняев. – М. : Энергия, 1980. – 360с : ил. – Библиогр.:с. 355. – 20000.

   Приведены сведения по основам теории контроля и испытания микроэлементов, микросхем и материалов. Описаны технология контроля параметров и испытания, а также испытательное оборудование и контрольно-измерительная аппаратура. Рассмотрены вопросы прогнозирования надежности. Для студентов вузов по специальностям 0604, 0629, 0648, 0705.

  УДК 621.396.6.049.77.001.4(075)


            



Примірники
Місце збереження Кількість В наявностi
301 - від. книгозберігання 1 1
503 - ч/з для студ. мол. курсів 1 1
504 - абон. для студ. мол. курс 3 3
603 - ч/з для студ. ст. курсів 1 1
604 - абон. для студ. ст. курсів 2 2
703 - абон. наук. літ. 2 2


Теми документа


Статистика використання: Видач: 0





Український Фондовий Дім Інформаційно-пошукова система
'УФД/Бібліотека'