С 50 |
Смирнов, Н. И. Оценка безотказности интегральных микросхем [Текст] / Н. И. Смирнов, В. Б. Широков. – М. : Радио и связь, 1983. – 102с : ил. – (Б-ка инженера по надежности). – Библиогр.: с. 96-100. – 10000.
Дается методика оценки безотказности ИС с учетом корреляционных связей между определяющими электрическими параметрами их однотипных, интегрально выполненных элементов. Для инженеров, связанных с разработкой и применением ИС, технологов и разработчиков технологического оборудования. |