В книге рассматриваются методы получения жидких кристаллов, исследуются физико-химические свойства, температурное и линейное разрешение, сроки службы и хранения жидких кристаллов. Приводится методика исследования тепловых параметров и выявления дефектов структур полупроводниковых приборов с помощью жидких кристаллов. Для научных и инженерно-технических работников, связанных с производством и эксплуатацией полупроводниковых приборов. Может быть использована студентами соответствующих специальностей.