Книга состоит из отдельных статей, посвященных современному состоянию и возможностям структурных методов исследования твердых тел-дифракционной электронной микроскопии, рентгенографии, нейтронографии, рентгеновской топографии, дифракции медленных электронов, автоионной микроскопии. Можно рекомендовать в качестве весьма ценного пособия для работников заводских лабораторий, научно-исследовательских институтов, преподавателей, аспирантов и студентов вузов, специализирующихся в области дифракционных и микроскопических методов исследования материалов.