| В 75 |
Воробьев, В. Л.
Термодинамические основы диагностики и надежности микроэлектронных устройств [Текст] / В. Л. Воробьев. – М. : Наука, 1989. – 159с : ил. – Библиогр.: с. 155-157. – 3200.
В монографии рассматриваются физические и прикладные основы интегрального термодинамического подхода в диагностике и надежности микроэлектронных устройств. Для специалистов в области качества и надежности изделий микроэлектроники. |
