| Б77 |
Бойчук, В. О.
Багатоаспектний метод та алгоритми генерації тестів комбінованого діагностування мікропроцесорних пристроїв [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : / Вадим Олександрович Бойчук ; Наук.-виробнич. корпорація "Киівський ин-т автоматики". – К., 2000. – 19 с. – Бібліогр.: с.18-19.
Метою дисертаційної роботи є подальший розвиток методу комбінованого діагностування сучасних МПП, спрямований на підвищення ефективності і достовірності процесу тестування за допомогою розробки нового багатоаспектного методу генерації тестів і алгоритмів його реалізації. |
