| С30 |
Семеренко, М. М.
Методы и устройства контроля качественных характеристик полупроводниковых приборов [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.11.13 : защищена 24.06.88 / Михаил Михайлович Семеренко ; ВПИ. – Винница, 1988. – 177 с. : ил. – Библиогр.: с.124-141.
Целью работы является исследование потенциально неустойчивых полупроводниковых приборов, создание методов и алгоритмов для определения их качественных характеристик по результатам измерений в СВЧ диапазоне и разработка измерительной установки для более эффективного контроля качества этих приборов. |
