| |
Гайдар, Г. П.
Термічний відпал радіаційних дефектів в n-Si, опроміненому швидкими нейтронами реактора [Текст] / Г. П. Гайдар, О. П. Долголенко, П. Г. Литовченко
// Український фізичний журнал. – 2008. – 53, № 7. – 691-696.
Термічну стабільність кластерів дефектів в n-Si, вирощеному методом Чохральського (Cz), досліджено після опромінення швидкими нейтронами реактора |
